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标准孔当量计算法-超声波检测缺陷定量 3
缺陷定量包括确定缺陷的大小和数量，而缺陷的大小指缺陷的面积和长度。一般超声波缺陷定量可以分为小于晶片直径的缺陷定量和大于晶片直径的缺陷定量。 ①小于晶片直径的缺陷定量包括等效试块直接比较法（试块法）、当量计算法（计算法）、AVG曲线法和底波高度百分比法。 ②大于晶片直径的缺陷定量包括相对灵敏度测量方法（测长法），绝_对灵敏度测量方法，极坐标作图方法，包络作图方法（超声C扫描）和标准图
发布时间：2022-05-01 19:33
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底波当量计算法-超声波检测缺陷定量 2
缺陷定量包括确定缺陷的大小和数量，而缺陷的大小指缺陷的面积和长度。一般超声波缺陷定量可以分为小于晶片直径的缺陷定量和大于晶片直径的缺陷定量。 ①小于晶片直径的缺陷定量包括等效试块直接比较法（试块法）、当量计算法（计算法）、AVG曲线法和底波高度百分比法。 ②大于晶片直径的缺陷定量包括相对灵敏度测量方法（测长法），绝_对灵敏度测量方法，极坐标作图方法，包络作图方法（超声C扫描）和标准图
发布时间：2022-04-20 09:31
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试块法-超声波检测缺陷定量1
缺陷定量包括确定缺陷的大小和数量，而缺陷的大小指缺陷的面积和长度。一般超声波缺陷定量可以分为小于晶片直径的缺陷定量和大于晶片直径的缺陷定量。 ①小于晶片直径的缺陷定量包括等效试块直接比较法（试块法）、当量计算法（计算法）、AVG曲线法和底波高度百分比法。 ②大于晶片直径的缺陷定量包括相对灵敏度测量方法（测长法），绝_对灵敏度测量方法，极坐标作图方法，包络作图方法（超声C扫描）和标准
发布时间：2022-04-15 08:48
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